第1章概述
1.1数字信号处理系统
1.1.1数字信号处理系统的构成
1.1.2数字信号处理系统的特点
1.2DSP芯片应用
1.3DSP芯片的开发现状
1.4F2833x系列的特点
1.5TMS320F28335外部引脚和信号说明
第2章基本结构与特征
2.1CPU概述
2.1.1CPU组成及特性
2.1.2CPU信号
2.1.3CPU结构
2.1.4地址和数据总线
2.2CPU寄存器
2.2.1累加器
2.2.2被乘数寄存器
2.2.3结果寄存器
2.2.4数据页指针
2.2.5堆栈指针
2.2.6辅助寄存器
2.2.7程序指针
2.2.8返回程序寄存器
2.2.9中断控制寄存器
2.2.10状态寄存器0
2.2.11状态寄存器1
2.3片上锁相环
2.3.1PLL功能配置
2.3.2时钟信号监视电路
2.3.3相关寄存器
2.3.4PLL配置注意事项
2.4CPU定时器
2.4.1工作原理
2.4.2相关寄存器
第3章存储器与通用I/O口
3.1存储器
3.1.1存储器映射
3.1.2代码安全模块
3.2通用输入输出端口
3.2.1GPIO概述
3.2.2GPIO工作模式
3.2.3数字I/O工作模式下的控制
3.2.4输入限定功能
3.2.5相关子寄存器
3.2.6GPIO配置步骤
第4章中断管理
4.1中断向量和优先级
4.1.1中断标志寄存器
4.1.2中断使能寄存器和调试中断使能寄存器
4.2不可屏蔽中断
4.2.1INTR指令
4.2.2TRAP指令
4.2.3不可屏蔽硬件中断
4.3复位操作
4.4低功耗模式
4.5外设中断扩展模块PIE
4.5.1PIE模块概述
4.5.2中断向量列表的映射地址
4.5.3中断源
4.5.4中断向量列表
4.5.5PIE模块相关寄存器
4.5.6CPU中断控制相关寄存器
4.5.7外部中断控制寄存器
第5章片内外设
5.1增强型脉宽调制
5.1.1ePWM概述
5.1.2ePWM各子模块介绍
5.2SCI模块结构及功能介绍
5.2.1SCI功能概述
5.2.2SCI多处理器通信
5.2.3空闲线多处理器模式
5.2.4地址位多处理器模式
5.2.5SCI通信格式
5.2.6SCI的中断
5.2.7SCI波特率计算
5.2.8SCI增强功能
5.3串行外设接口
5.3.1概述
5.3.2SPI模块工作方式介绍
5.3.3SPI中断及其他相关配置
5.3.4SPI FIFO功能介绍
5.4增强型正交编码脉冲
5.4.1概述
5.4.2正交解码单元
5.4.3位置计数器及控制单元
5.4.4边沿捕获单元
5.4.5eQEP看门狗电路
5.4.6中断结构
5.5增强型捕获
5.5.1概述
5.5.2捕获工作模式
5.5.3APWM工作模式
5.6模/数转换模块ADC
5.6.1转换序列发生器工作原埋
5.6.2不间断自动定序模式
5.6.3转换时钟
5.6.4ADC基本电气特性
5.6.5ADC高级功能
第6章寻址方式和汇编指令
6.1寻址方式
6.1.1寻址方式选择位AMODE
6.1.2直接寻址方式
6.1.3堆栈寻址方式
6.1.4间接寻址方式
6.1.5寄存器寻址方式
6.1.6其他可用的几种寻址方式
6.1.732位操作的定位
6.2汇编语言指令集
6.2.1指令集概述
6.2.2指令句法描述
6.3汇编源程序
6.3.1汇编源程序格式
6.3.2常量
6.3.3表达式与运算符
6.3.4源列表文件
第7章伪/宏指令和目标文件链接
7.1伪指令
7.1.1伪指令作用及分类
7.1.2伪指令汇总
7.2宏指令
7.2.1宏定义和宏调用
7.2.2与宏相关的伪指令
7.3目标文件链接
7.3.1段
7.3.2段程序计数器
7.3.3链接器命令文件和链接器伪指令
7.3.4重定位
第8章CCS软件使用
8.1软件开发工具
8.2安装调试软件
8.2.1安装DSP调试软件——CCS3.3
8.2.2CCS3.3软件升级包的安装
8.2.3安装DSP仿真器——XDS510 USB驱动
8.3配置XDS510 USB(使用CCS3.3)
8.3.1更改设置管理器设置
8.3.2CCS3.3软件的设置
8.4初步建立工程
8.5配置工程
8.5.1添加文件
8.5.2配置工程选项
8.5.3添加GEL文件
8.6编译和仿真环境的进入
8.7程序的固化
第9章实验系统介绍
9.1ELDSPE300型DSP实验系统介绍
9.2硬件资源
9.3器件片选地址(CPLD译码)说明
9.4拨码开关介绍
9.5E_LAB总线接口介绍(E300板上)
第10章实验指导
10.1常规实验指导
10.1.1拨码开关实验
10.1.2CPU定时器实验
10.1.3外部中断实验
10.1.4键盘接口实验(E300)
10.1.5A/D实验(CPU)
10.1.6A/D(外部)实验
10.1.7D/A实验
10.1.8PWM波形产生实验
10.1.9语音实验
10.1.10LCD实验(E300)
10.1.11USB(从模式)实验
10.1.12USB(host)实验
10.1.13DTMF(双音多频)信号的产生和检测实验
10.1.14二维图形生成实验
10.1.15数字图像处理实验
10.2算法实验指导
10.2.1快速傅里叶变换(FFT)算法实验
10.2.2有限冲击响应滤波器(FIR)算法实验
10.2.3无限冲击响应滤波器(IIR)算法实验
10.2.4卷积(Convolve)算法实验
10.2.5离散余弦变换(DCT)算法实验
10.2.6相关(Correlation)算法实验
10.2.7μ_LAW算法实验
参考文献